上视觉项目最常见的争论是"算法不行"。但把误报样本调出来看,多数是缺陷在图像里本来就不清晰。
| 缺陷类型 | 推荐光源 | 原理 |
|---|---|---|
| 表面划痕、凹坑 | 低角度环形光 / 暗场 | 掠射让凹凸产生明暗对比 |
| 标签错位、字符缺失 | 同轴光 / 背光 | 均匀照明,靠轮廓判断 |
| 异物、污点 | 背光(透射) | 异物挡光形成黑点 |
| 颜色偏差 | 白色环形光 + 色温稳定 | 避免色温漂移导致误判 |
如果同一个缺陷在有的产品上能检出、有的检不出,先怀疑照明不均匀,而不是阈值设得不对。
当图像里缺陷清晰可辨、而模型仍判错时,才是算法问题。此时优先补样本,而不是调阈值——调阈值只会把误报换成漏报。
污损码的识别难度见污损码处理,系统选型见AI 视觉检测系统。

通常需要重新采样与微调,但工作量远小于在错误成像上硬调算法。
不能。背光只看轮廓与透光,表面缺陷要用前向低角度光。
视人工复检成本而定。关键看误报是否集中在同一类,集中就有解,分散往往是成像问题。